1. 什么是坏道？

      坏道，英文名称Bad Cluster（坏簇），是碟片相应区域磁性减弱或消失，磁头无法识别该区域信息造成的。根据格式化时选择的参数不同，一个簇内包含2的整数次幂个扇区(Sector)，即使簇内仅有一个扇区损坏，该簇也会被弃之不用。

      坏道是硬盘数据恢复中最常出现的故障之一，通常表现为硬盘分区无法打开或打开时非常缓慢、移动硬盘提示“I/O错误”或“循环冗余错误”等。出现坏道说明硬盘自身的容灾机制已经失效，硬盘如果继续使用，坏道就会持续产生。而物理坏道是无法通过所谓的“修复软件”进行修复的，这些软件将坏道区域进行逻辑屏蔽是治标不治本的方式。出现坏道后，用户应及时对硬盘进行断电保护，防止造成更大的数据丢失。

2. 坏道是怎么产生的？

      坏道的产生，本质上是硬盘工艺的可靠性无法做到百分百造成的。这里要提到两个与坏道息息相关的概念，P-List（P表）和G-List（G表）。

      （1）P-List，永久缺陷表。硬盘在生产时，由于生产、加工工艺的问题，碟片上或多或少会有一些与生俱来的缺陷区域，工厂会对这部分区域进行校验，并将其屏蔽在一个特定区域内，这个区域被就是P-List。，从字面含义就能知道，这个区域是先天的，无法修复的。而P-List中实际上还保留了一部分完好区域，当硬盘由于坏道而无法使用时，工厂级维修可以将这些坏道放入P-List中，并从中将完好的区域释放出一部分，这样硬盘就又可以正常工作了。

      （2）G-List，增长缺陷表。硬盘在使用时，不可能所有区域都稳定运行到硬盘寿终正寝，有些区域会提前老化或损伤，这时候，硬盘会把出厂以后产生的坏道放入另一个特定区域中，即G-List中，也就是说，硬盘在使用时产生坏道其实是不可避免的，但少量坏道，对用户完全没有影响，因为G-Lis会及时将其屏蔽，但是，如果坏道产生的数量超出G-List可以屏蔽的范围，坏道就开始在硬盘中肆无忌惮的破坏了。

      （3）还有一种情况，其表现与坏道极为相似。大容量硬盘普遍采用多碟片、多磁头设计，如果某一个磁头发生故障，用户在检测硬盘时也会看到大量坏道，并且呈现周期分布。这种情况本质是磁头不能读取造成的，而不是碟片上这个区域真的出现了损伤。

3. 坏道能修复吗？

      坏道产生后，很多用户会用一种错误的方式来"隔离"它。例如用户检测到硬盘10GB左右的位置上有少量坏道，而其它区域是完好的，他们会在10GB之后创建一个分区来存储数据，而前10G则保留不用。但这是一种治标不治本的方式。根据上文介绍，产生坏道说明硬盘的G-List已满，而坏道在使用中会不时产生，虽然通过隔离分区的方式能将已经产生的坏道控制起来，但新产生的坏道可能就不在这个隔离区中了。

      目前，支持坏道修复的工具有DOS下的MHDD以及Windows下的Vectoria，它们可以将产生坏道的区域重新映射（Remap）来将坏扇区屏蔽之P表中，在一定程度上可以修复产生少量坏道的硬盘，但对于产生大量坏道的硬盘，任何修复工具都无法彻底解决问题，在这种情况下，专业数据恢复公司都会建议用户更换新硬盘，而不是尝试维修。

4. 出现坏道的硬盘如何恢复数据？

      坏道对于专业数据恢复公司来说，是一类可大可小的故障，少量坏道对于数据恢复没有太大影响，通过PC3000这类专业工具，数据都能完整恢复；但对于大量坏道的硬盘，数据恢复周期长，恢复效果也会相对较差。硬盘出现坏道后，建议用户不要继续使用此硬盘，更不要强制拷贝位于坏道区域的数据，防止坏道故障升级，最终造成更严重的数据丢失。